Oficiální časopis Akademie věd ČR

 


Z monitoringu tisku

 

Akademický bulletin 2010–2015

Plakat_obalky_web.jpg



Stopy AB v jiných titulech

Stopa AB v dalších médiích a knižních titulech

RECENT TRENDS 2008

Jedenáctý ročník semináře o současných trendech v elektronové optice a přístrojové technice pro povrchovou fyziku se uskutečnil ve dnech 14.–18. července 2008 v hotelu Skalský dvůr na Českomoravské vrchovině. Akci pravidelně pořádá oddělení Elektronové optiky Ústavu přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., a je tradiční příležitostí k setkávání vědců, kteří pracují v oblastech týkajících se vytváření a formování svazků nabitých částic a jejich využití.

Recent Trends 2010

K účasti na semináři jsou zváni významní vědci z tohoto oboru i jejich nadějní studenti či začínající pracovníci. Ti pocházejí z akademické sféry i z firem a jejich příspěvky se soustředí spíše na zahajované nebo budoucí projekty a dosud nezodpovězené otázky než na prezentaci již hotových výsledků. První seminář se uskutečnil v roce 1989 za účasti několika zahraničních hostů v prostorách ÚPT a od roku 1990 jej ústav pořádá každé dva roky. Od roku 1992 jej stabilně hostí již zmíněný hotel Skalský dvůr u Bystřice nad Pernštejnem, který se stal pro konferenci symbolem. Za dobu existence si seminář našel své místo v kalendáři mnohých domácích i zahraničních účastníků. Bezpochyby k tomu přispěla tradičně výborná úroveň příspěvků a bezchybná organizace, kterou měla do minulého setkání na starosti vedoucí oddělení Elektronové optiky ÚPT dr. Ilona Müllerová.
Ivan Vlček z ÚPT AV ČR vysvětluje detaily funkce nové elektronové svářečky, kterou přebírá do licenční výroby německá firma Focus.

Ivan Vlček z ÚPT AV ČR vysvětluje detaily funkce nové elektronové svářečky, kterou přebírá do licenční výroby německá firma Focus.

Letošního ročníku se zúčastnilo 50 zástupců univerzit, vědeckých ústavů a firem z České republiky, Rakouska, Německa, Francie, Velké Británie, Ruska, Singapuru a USA, kteří přednesli 24 přednášek a prezentovali 14 posterů. Hlavními tématy byly současné i budoucí trendy v rastrovací (SEM), prozařovací (TEM), nízkoenergiové (LEEM) elektronové mikroskopii a fotoemisní mikroskopii (PEEM), výpočty elektronově optických prvků, aplikace a návrhy mikroskopických systémů SEM, TEM, LEEM a PEEM a také principy i aplikace svařování elektronovým svazkem. Na semináři vystoupili nejen uznávaní odborníci, jako jsou například Armin Delong, Harald Rose nebo Erich Plies, ale také začínající studenti, kteří měli jedinečnou možnost diskutovat se zkušenějšími kolegy. Atmosféru celé akce dotvářel společenský program, který zahrnoval sport, hudbu i společná večerní posezení. Hlavní poslání akce – konfrontace projektů, záměrů i nových výsledků a nápadů v oborech semináře – se určitě naplnila. Doufáme, že se další ročník Recent Trends 2010 vydaří minimálně tak jako ten letošní.

FILIP MIKA,
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.